Mikroskop atomových sil
-
mikroskop atomové síly afm
Značka: NANBEI
Model: AFM
Atomic Force Microscope (AFM), analytický přístroj, který lze použít ke studiu struktury povrchu pevných materiálů, včetně izolátorů.Studuje povrchovou strukturu a vlastnosti látky detekcí extrémně slabé meziatomové interakce mezi povrchem vzorku, který má být testován, a prvkem citlivým na mikrosílu.
